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      納米顆粒粒徑檢測的幾種方法,快來了解一下吧!

       更新時間:2021-07-09 點擊量:2927
        納米顆粒粒徑檢測:顆粒的大小稱為粒度,通常球體顆粒的粒度用直徑表示,立方體顆粒的粒度用邊長表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實際中的顆粒大多是不規則的,所以,為了更方便的描述顆粒的大小,在實際測算中,將不規則的顆粒等效為規則球,并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論”。
       
        納米顆粒粒徑檢測的方法主要有篩分法、光阻法、動態光散射、超聲波法、沉降法、電阻法、激光散射/衍射法、電子顯微鏡和顯微(圖像)法。那么這幾種方法各自具備哪些優點呢?
       
        納米顆粒粒徑檢測方法的優點介紹:
       
        篩分法設備簡單,操作簡便,易于實行,設備造價低。
       
        光阻法的測量精度較高繁瑣。
       
        動態光散射法具有準確、快速、可重復性好等優點。
       
        超聲波法可對高濃度漿料直接測量。
       
        沉降法原理直觀,分辨率較高,價格及運行成本低。操作簡便,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較廣。
       
        電阻法測量精度高,操作簡便,測量速度快,重復性較好,通常范圍在0.5~100μm。
       
        激光散射/衍射法操作簡便,測試速度快,測試范圍廣,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。測試速度快,自動化程度高,操作簡便,重復性和真實性好,可以測試干粉樣品,可以測量混合粉、乳濁液和霧滴等。
       
        電子顯微鏡法適合測試超新顆粒甚至納米顆粒,分辨力高,可進行形貌和結構分析。
       
        顯微(圖像)法可以直接觀察顆粒的形貌,可以準確地得到球型度、長徑比等特殊數據,適合分布窄的樣品。
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